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福祿克FLUKE PM63XX系列電橋LCR測(cè)試附件
日期：2012-11-08瀏覽：4741次
福祿克FLUKE PM63XX系列電橋LCR測(cè)試附件說(shuō)明
PM9541B 測(cè)試電纜和開爾文夾（材質(zhì)：酚醛塑料，銅）
利用測(cè)試電纜測(cè)量線路板上的元件或大元件。
測(cè)試電纜通過圓插頭（紅色記號(hào)，面對(duì)面）連接到儀器。插頭能自動(dòng)鎖定。拉凸部分可解開插頭鎖定。
（見下圖）
PM9542A RCL適配器（材質(zhì)：酚醛塑料，銅）
RCL適配器能使你遠(yuǎn)離儀器面板測(cè)量元件。RCL適配器也比直接使用面板連接端口能測(cè)量更大的元件。（見下圖）
RCL適配器通過圓插頭（紅色記號(hào)，面對(duì)面）連接到儀器面板。
提供的單雙測(cè)試接線端子均可直接插入儀器面板上的連接端口。
注：為測(cè)量，只插入實(shí)際測(cè)量所需的測(cè)量接線端子，電纜或適配器。
PM9542SMD, 表面貼裝器件適配器（材質(zhì)：酚醛塑料，銅）
表面貼裝器件適配器可備用于測(cè)量長(zhǎng)度在2到10mm，深度>1mm, 高度>0.5mm 或直徑>1mm的表面貼裝器件。為方便快速裝卸器件，可將SMD適配器插入PM9542A RCL適配器。
也可以直接將表面貼裝器件適配器插入儀器面板連接端口，為方便插器件，可將儀器置于傾斜位置（折下提手）
（見下圖）
當(dāng)用表面貼裝器件適配器測(cè)量極小的電容特別是小于100pF, 必須考慮因接觸間隙產(chǎn)生裝置雜散電容的影響。
PM 9540/TWE, 表面貼裝器件鑷子（材質(zhì)：酚醛塑料，銅）
利用表面貼裝器件鑷子測(cè)量單個(gè)表面貼裝器件或線路板上的表面貼裝器件。（見下圖）
表面貼裝器件鑷子通過圓插頭（紅色記號(hào)，面對(duì)面）連接到儀器面板。
對(duì)測(cè)量小電容時(shí)的開路修整，設(shè)置鑷子的開口與元件大小一致。
兩線測(cè)量技術(shù)以及鑷子尖施加的壓力會(huì)產(chǎn)生除RCL表的基本誤差之外的一個(gè)測(cè)量誤差，這是因?yàn)橛辛烁郊拥拇?lián)電阻（典型情況0.02Ω）。鑷子尖上的灰塵或污染也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。因此鑷子尖應(yīng)定期用*和柔性布清潔。
PM 9540/BAN, 測(cè)試電纜和香蕉插頭（材質(zhì)：酚醛塑料，銅）
該電纜用于需要香蕉插頭的應(yīng)用場(chǎng)合。
（見下圖）
測(cè)試電纜通過圓插頭（紅色記號(hào)，面對(duì)面）連接到儀器面板。
當(dāng)進(jìn)行開路0修整時(shí)， DRIVE+ 與 SENSE+ 短接； DRIVE- 與 SENSE-短接。對(duì)短路0修整，四個(gè)頭短接。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 梅特勒METTLER
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
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